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X熒光光譜儀606系列ROHS無鹵分析儀

此儀器用于快速測量分析儀電子電機產品中如Cd/Pb/Hg等有害物質含量的儀器,具有輕便、操作簡單等優點。 1.采用原裝電致冷高性能SI-PIN探測器, 分辨率高, 探測范圍寬, 涵蓋ROHS、鹵

產品介紹introduction

此儀器用于快速測量分析儀電子電機產品中如Cd/Pb/Hg等有害物質含量的儀器,具有輕便、操作簡單等優點。
 

1.采用原裝電致冷高性能SI-PIN探測器, 分辨率高, 探測范圍寬, 涵蓋ROHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規材料分析的基本要求。
2.配置先進的DPP數字多道信號集成處理器, 比普通模擬多道信號處理器性能佳, 尤其在高計數率時分辨率高(如HG和CI等) 高達80MHZ的數據傳輸速度使分析時間變短,尤其在
測量重復性和長期穩定性上有提高。
3置高清攝像系統清晰觀察樣品,準確定位樣品測試區域。
4.配套FP測量軟件,集成多種譜圖處理算法和基體校正算法,有效降低儀器測量中的各種干擾譜峰,使低含量和痕量元素的檢測結果趨近準確,更加接近真值水平。
   
型號 R-606 能量色散X熒光光譜儀
分析元素 定量測試ROHS和鹵素中的 鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、鉻(Cr)、
多溴聯苯(PBB)和多溴聯苯醚(PBDE)中的總溴,鹵素中的溴(Br)、氯(Cl)
 
技術指標
檢出下限:Pb /Cd/Cr/Hg/Br/≦2ppm
測試樣品時間:50-300秒可調
測試含量范圍:1ppm-99.99%
樣品形狀:任意大小,任意不規則形狀; 樣品類型:塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
探測器 Amptek Si-PIN探測器,高速脈沖分析系統,最佳分辨率:149±5eV
X射線管 50w側窗鈹窗型X射線管
高壓電源 美國 Spellman    50w(50kv/MA)
工作環境 工作溫度:18-22℃,相對濕度:40%-60%,電源:AC 220 V±10 %、50/60 Hz,測定條件:大氣環境
防輻射系統 軟硬結合的防輻射設計,三重處理:X光管的特殊輻射處理、樣品蓋的雙層鉛皮包裹、軟件的輻射預警
樣品監測系統 在軟件測試界面可實時觀察樣品狀態和放置樣品測試前微動調整樣品位置,樣品測試完成后圖樣清楚呈現在測試報告中
軟體系統 定的量精分準析測計試算。多,種運語用言理操論作Alp界h面a系,操數作法簡(N單BS,-一GS鍵C式法設) 、計集,成可F生P、成法各經種驗定系制數報法告,針,能對夠Ro自H動S無輸鹵出元PD素(F、PEbX,CCEdL,等H報g,告Br格,C式r,Cl)
外形尺寸、重量 650mm*450mm*450mm、重約50KG
樣品腔尺寸 350(W)×300(D)×150(H)mm,大樣品蓋可進行開蓋敞開測試

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